EUV技術量產已進入最後衝刺階段

隨著工程師們競相解決錯綜複雜的相關問題,醞釀了20年的新世代微影工具終於來到大量問世前的最後一個階段──儘管極紫外光(EUV)步進機的大量生產面臨複雜的問題以及緊迫的時間,專家們仍然抱持樂觀態度。

EUV技術量產已進入最後衝刺階段

好消息是,半導體產業界正眾志成城、積極推動技術進展;如比利時研究機構Imec的技術與系統執行副總裁An Steegen所言:“在過去,可能會有一家公司率先採用最新的半導體技術,但現在幾乎所有的邏輯工藝技術供貨商都跳進來、咬緊牙關努力並勇於承擔風險。”

Imec是荷蘭EUV微影設備大廠ASML的長期合作伙伴,他們與晶圓代工廠、半導體供貨商攜手,現在的目標是解決該種有尺寸有一個房間大小、將用以製造新一代芯片的設備剩下的最後幾個主要問題;Steegen在Imec年度技術論壇接受EE Times採訪時指出,這很像是在2008年問世的FinFET晶體管,是很重大但充滿挑戰的半導體性能提升關鍵。

她表示:“人們比較過下世代節點的最糟情況以及舊節點的最佳情況,現在各方都同意FinFET是具備超高性能的組件;我學到的教訓是要對所有事情抱持懷疑態度…未來的半導體工藝技術還有足夠進步空間,讓SoC設計工程師能得到他們想要的。”

而在筆者於Imec總部排隊等著喝咖啡時與一位有32年工作資歷的EUV開發老將閒聊時,他簡單表示:“現在有很多壓力…但我們正在取得進展。”

確實,三星(Samsung)的晶圓代工部門趕著在今年底於7納米工藝導入EUV,該公司的目標是超越最大競爭對手臺積電(TSMC),後者正利用現有的浸潤式微影設備進行7納米設計案的投片;臺積電與另一家晶圓代工大廠GlobalFoundries也不落人後,他們打算在明年以EUV量產強化版的7納米工藝。

Imec預期,DRAM製造商會在D14+節點採用EUV技術──應該會在2021年內存半間距(half pitches)來到20納米以下時。

目前Imec有兩個技術開發重點,有助於舒緩邊緣粗糙度(line-edge roughness)的問題,並消除所謂的隨機效應(stochastics)、隨機誤差(random errors)等造成觸點漏失(create missing)、觸點斷續(kissing contacts)的缺陷。那些誤差在今年稍早於對下一代5納米節點十分關鍵的15納米臨界尺寸首度被發現,但研究人員表示他們也在7納米看到一樣的問題。

Steegen預期將會有混合式解決方案出現,這種方案會採用掃描機設定、光阻劑材料以及後期處理等方法的結合,以接續斷裂的線路、將粗糙部分抹平或是填補漏失的觸點。

晶圓代工業者可以提供更高劑量的EUV光源──例如80 millijoules/cm2──以擴大工藝容許範圍(process window),但這會讓生產速度減慢;Steegen表示:“第一次實作時的最高劑量決定權在於各家晶圓代工廠。”

EUV技術量產已進入最後衝刺階段

工程師正在利用一系列的光罩調整、步進機設定、光阻劑選擇以及後期處理方法,來解決EUV的隨機誤差問題 (來源:Imec)

混合式解決方案以及放寬的設計規則

Imec正在開發能預測並定位隨機誤差可能在設計中出現的地方,以提供工藝容許範圍的視野;但尋找缺陷往往非常仰賴快速的電子束檢測系統(e-beam inspection systems)。

隨著工藝節點來到單納米尺寸,研究人員開始將缺陷歸因於為小細節;舉例來說,一次EUV曝光中的光子數量,會影響化學放大光阻劑(chemically amplified resists),而其他種類的光阻劑性能也會因為所嵌入的金屬分子定向(orientation)而有所變化。

對此Steegen表示:“並非所有的光阻劑作用都一樣,它們因為不同基層而表現出的作用也會很獨特…我們仍在經歷一些基礎性的學習。”

為了簡化工藝世代轉移,GlobalFoundries採取分階段EUV策略,在相對較寬鬆的7納米節點只採用5層金屬;該公司首席技術官Gary Patton在Imec技術論壇上接受採訪時表示:“我們能夠以較低劑量運作並達到良好的生產量。”

Patton透露,GlobalFoundries將於今年稍晚採用浸潤式微影進行首次7納米設計投片,是一款AMD處理器;接著是一款IBM處理器,然後有數款ASIC。

GlobalFoundries將7納米節點的間距與SRAM單元製作得跟臺積電的很類似,讓芯片設計業者如AMD能夠同時利用兩家晶圓代工廠;他表示,AMD“的需求會高於我們擁有的產能,所以我們對(AMD也委託臺積電生產)這件事沒有意見。”

不過,GlobalFoundries在開發10納米節點的同時會跳過5納米節點,該公司認為前者會有適度的遞增收益;而該公司正在為下一代工藝尋求財務與技術上的夥伴,有可能會朝3納米節點邁進。

EUV技術量產已進入最後衝刺階段

微影技術人員現在將良率問題視為EUV需要考慮的首要議題 (來源:Imec)

在面對眾多挑戰的同時保持樂觀

儘管有重重挑戰,Patton仍保持樂觀;他認為,儘管智能型手機市場成長趨緩,產業界已經演變至進入AI時代,“新的無晶圓廠IC公司暴增”。在此同時,GlobalFoundries的FD-SOI工藝將至今年底將擁有75家設計夥伴,目前已經取得36件設計案。

“很多人去年都在場邊觀望FD-SOI是否做得成,而現在結果已經很清楚;”Patton指出,該工藝技術能支持低至0.4V的設計,並在今年秋天量產Grade 2車規版本。

GlobalFoundries與Imec的高層對於整體半導體技術藍圖的進展仍保持樂觀,不過有一些工程師開始在公開談論,晶體管速度的提升一般來說已經終結,晶體管密度與性能的進展則是一個節點比一個節點減少。

對此Imec正在協助晶圓代工業者開發一系列性能提升技術來補強,包括簡化的單元軌(cell tracks)、埋入式電源軌(buried power rails),以及芯片上電路堆棧(on-die circuit stacks)。

“一般來說我並沒有看到報酬遞減,”Steegen表示:“我對於3納米與2納米邏輯工藝節點與內存技術藍圖發展感到樂觀,我們有足夠的資源…因此設計工程師會看到芯片面積的微縮,但他們可能需要在設計上做一些改變。”

因此Imec的芯片微縮核心項目,繼續每年以每年5~10%的速率成長;Imec首席執行官Luc Van den Hove首席執行官表示:“十年前,我們預期我們在先進CMOS工藝技術方面的工作會持平發展,因為產業整並的緣故,但情況恰恰相反。”他指出,Imec的相關項目因為AI加速器芯片以及DNA儲存等新題材而增加。


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