由IEEE TTTC（測試技術委員會）和CEDA（EDA委員會）主辦，CCF容錯計算專業委員會協辦，中科院計算所計算機體系結構國家重點實驗室和哈爾濱工業大學承辦的IEEE國際測試大會第二屆亞洲分會（ITC-Asia 2018）於2018年8月15-17日在哈爾濱召開。本次會議與第十屆中國測試學術會議（CTC 2018）聯合舉辦。註冊人數超過450人，是本年度國內集成電路測試領域規模最大、規格最高、影響最廣的一次科技盛會。
會場照片
國重常務副主任李曉維研究員和香港科技大學的Kwang-Ting (Tim) Cheng教授擔任ITC-Asia 2018的大會主席，國重的李華偉研究員和日本九州工業大學的Xiaoqing Wen教授擔任ITC-Asia 2018程序主席。
大會主席李曉維研究員致辭
程序主席李華偉研究員致辭
本次會議邀請到三位IEEE Fellow做大會報告，分別為：來自Mentor 公司的高級副總裁Janusz Rajski博士的主題報告“DFT for Automotive Functional Safety”；來自UCSB的 Li-C. Wang 教授的主題報告“AI Toward Autonomous Testing – To What Extent Can Machine Replace An Analyst?”, 來自UT Austin 的 David Z. Pan 教授的主題報告“AI and Intelligent IC Design/Manufacturing”。
在開幕式上，TTTC 總裁Yervant Zorian博士為中科院計算所閔應驊研究員頒發了“IEEE TTTC Significant Contribution Award”，這是大陸學者首次獲得該獎項。
閔應驊研究員曾任CCF容錯計算專委第三、四屆主任，1996年當選IEEE Fellow。他在容錯計算、數字電路測試等方面的學術研究做出了卓越的貢獻，在國內外容錯領域享有盛譽，曾獲“2015 CCF容錯計算終身成就獎”。
閔應驊研究員獲得“IEEE TTTC Significant Contribution Award”
除了重磅的主題演講外，會議還安排了針對當前熱點話題“Machine Learning, a buzzword for Test Community?”的Panel，邀請到了來自聯發科公司、華為公司、Mentor公司、杜克大學、臺灣清華大學等涵蓋產學研界的六名領域知名專家進行了觀點分享，與會人員進行了熱烈的研討，受到一致好評。
Panel會場
此外，會議還安排了兩個來自TTTC的拓導報告、兩個前沿技術論壇、八個學術論文分組會議、兩個工業界技術應用論壇和工業界展覽等。
參會部分代表合影
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