SIL，SIF和SIS这三个术语都是国际电工委员会（IEC 61508，IEC 61511）和国际自动化学会的标准中定义的所有术语。它们没有“自然”的含义；它们是编写这些标准的委员会的结构，这些委员会可以决定它们的作用和含义。
SIS（我们将其发音为“ S-I-S”，尽管有些人将其发音为“ sis”）“用于实现一个或多个安全仪表功能。”
SIF（我们将其称为“ siff”，从未听说过有人将其称为“ S-I-F”）“旨在针对特定的危险事件实现或维持该过程的安全状态”。
SIL（我们将其称为“门槛”，当将其用作形容词时，指的是SIL等级而不是SIL级别，因为“ L”已经代表“级别”）是“离散级别（四分之一）”指定“ SIF”的可靠性，SIL 4具有最高的可靠性，而SIL 1具有最低的可靠性。
请注意，“ SIL”仅适用于SIF，不适用于其他降低风险的措施。安全阀不是“ SIL 2”。 SIL适用于SIF，而不适用于整个SIS。还应注意，尽管该术语通常适用于安装在SIS中没有SIL额定值的安全功能，但该标准并未定义“ SIL 0”。
尽管标准允许SIL 1（可将风险降低至少10倍），SIL 2（可将风险降低至少100倍），SIL 3（可将风险降低至少1000倍）和SIL 4（至少降低了10,000倍的风险），过程工业界已经达成共识，任何需要将10,000倍的风险降低的危害都应该重新设计，而不是依赖一个SIL 4 SIF。因此，您通常会发现SIL 1 SIF和SIL 2 SIF。在SIS中，以及偶尔出现的SIL 3 SIF，但从未出现过SIL 4 SIF。
SIF是否足够可靠以达到SIL 1，SIL 2或SIL 3，首先取决于其按需失效的平均概率-PFD。
按需故障的平均概率—PFD
PFD是SIF的最重要功能。 PFD越低，我们越喜欢它。要被认为是SIL 1，SIF的PFD必须小于或等于0.1，这意味着您可以期望它在需要工作至少十分之九的时候工作。对于SIL 2，PFDAVG必须小于或等于0.01，对于SIL 3，PFDAVG必须小于或等于0.001。
给定特定的SIF设计或体系结构，可以相当准确地将SIF的PFDAVG近似为构成SIF的子系统的PFDAVG之和。从最基本的角度来说，SIF包含三个子系统：传感，逻辑求解和最终控制。但是，某些SIF具有不止一个传感子系统。甚至，SIF拥有多个最终控制子系统。
如果所有子系统都具有相同的PFD，则包含SIF的子系统越多，PFD就会越高，甚至越差。组件SIL认证中没有任何内容可以说明构成特定SIF设计的子系统的数量。因此，SIL认证不足以保证SIF的SIL。
SIF子系统
对于特定的子系统设计，PFDAVG是组件的故障率和子系统的验证测试间隔的函数。组件越可靠，故障率应该越低。组件的SIL认证应提供该组件的故障率，但没有SIL认证的组件可以使用，只要它们是“经证明可使用的”，并且可以合理估计出故障率。
验证测试间隔对组件故障率同样重要。验证测试间隔越短，PFDAVG越低（更好）。 SIL认证不包含有关证明测试间隔的建议，即使这样，最终用户也可以选择更频繁地进行测试，这将降低PFDAVG，或减少一次，从而增加PFDAVG。
冗余
减少PFD的另一种方法是将冗余合并到设计中。与单块设计相比，双块设计失败的可能性要小得多，因为即使其中一个截止阀无法关闭，只要另一个截止阀关闭，流量仍会停止。如果单个阀的PFD约为0.02，则阀对的PFDAVG约为0.0005。
这意味着使用冗余架构，甚至可以使用仅适合SIL 1的组件来设计SIL 3 SIF。
SIL认证
SIL认证适用于特定组件。它不适用于SIF或SIS。如果供应商明确提供其用于安全系统的组件，这可能是供应商能够提供的，应该能够提供的东西。但是，即使没有SIL认证，也可以了解“通用”组件的潜在可靠性。
SIL认证可以提供有关组件故障率的信息，但不能说出该组件的PFD是什么，更不用说整个SIF的PFD了，这对SIL确实很重要。
