半導體器件損壞的特點

二、三極管的損壞一般是PN結擊穿或開路,其中以擊穿短路居多。此外還有兩種損壞表現:一是熱穩定性變差,表現為開機時正常,工作一段時間後,發生軟擊穿;另一種是PN結的特性變差,用萬用表R×1k測 ,各PN結均正常,但上機後不能正常工作,如果用R×10或R×1低量程檔測,就會發現其PN結正向阻值比正常值大。測量二、三極管可以用指針萬用表在路測量,較準確的方法是:將萬用表置R×10或R×1檔(一般用R×10檔,不明顯時再用R×1檔)在路測二、三極管的PN結正、反向電阻,如果正向電阻不太大(相對正常值),反向電阻足夠大(相對正向值),表明該PN結正常,反之就值得懷疑,需焊下後再測。這是因為一般電路的二、三極管外圍電阻大多在幾百、幾千歐以上,用萬用表低阻值檔在路測量,可以基本忽略外圍電阻對PN結電阻的影響。

半導體器件損壞的特點



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