传统的 TX 测试主要解决了发送端链路的从芯片封装管脚，到整个传输链路包括PCB走线和连接器。而在系统接收端的接收路径则也可能会受到电源纹波和噪声与时钟的干扰乃至链路损耗等 SI 因素的影响。因此发送端测试能够通过 CTS（Compliance Test Specification）并不能代表系统的接收端是完全符合标准和规范的。因此业界各种标准和组织包括如 PCI-Sig，USB-IF，HDMI 联盟等也都定义了接收端必须遵从的规范和测试方法。
由此误码仪（Bit Error Tester）在高速串行电路设计和测试中越来越得到广泛采用。
为什么需要？
误码仪到底是什么？
在其中扮演了什么角色呢？
如何采用误码仪
进行高速串行数据接收端测试呢？
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小测验
“在高速串行数据接收端测试中新一代的内置集成CDR方案相对上一代的外置CDR有何优点？
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