X射线光电子能谱（XPS）是表面分析中的重要分析工具。XPS具有非常灵敏的表面性以及和价态的关系，决定了电子能谱技术在材料科学、物理学、化学、半导体以及环境等领域有着重要的应用价值。XPS技术主要用于表征纳米材料表面的化学组分、原子排列以及电子状态等信息。利用X射线光电子能谱（XPS）对表面元素做出一次性的定性和定量分析，并通过离子束溅射获得元素深度的化学成分分布信息，利用高空间分辨率进行微区选点分析、线扫描分析以及元素面分布分析。电子能谱技术是应用于微电子器件、催化剂、材料保护、表面改性以及功能薄膜材料等方面表面分析和价态分析的重要分析方法。本报告主要介绍XPS在纳米材料表界面研究中的应用。
本报告主要介绍XPS在纳米材料表界面研究中的应用。
姚文清，高级工程师。国家电子能谱中心副主任，清华大学分析中心表面分析室主任。
自1995年以来，一直从事表面化学分析方法学研究和分析仪器研制。先后主持承担科技部创新方法专项、国标委标准制定专项、国家基金委面上基金等项目多项。完成制定俄歇电子能谱仪、X射线光电子能谱仪的分析方法国际标准1项、国家标准12项，国家发明专利授权和申请5项。发表SCI收录论文90余篇，论著2部。研究成果：获得国家自然科学奖二等奖1项，教育部自然科学奖一等奖2项、二等奖1项，教育部科学技术进步奖（基础类）二等奖1项。
学术兼职：国际标准化委员会表面化学分析分委员会委员，全国微束分析标准化委员会表面化学分析分技术委员会副主任,高校分析测试中心研究会副秘书长，北京理化分析测试协会表面分析技术委员会副理事长，中国感光学会光催化专业委员会委员，东北大学秦皇岛分校兼职教授。
讲座时间和形式：2017年10月17日 晚上19:30 线上讲座
课程由易科学（easysciencenews）主办
閱讀更多 易科學 的文章
