一、 瓷絕緣子斷串機理
對瓷絕緣子而言，當絕緣子頭部瓷件存在細微裂紋等缺陷，隨著運行中潮氣的侵入，絕緣子頭部絕緣電阻降低(形成零值絕緣子)，一旦絕緣子串遭受雷擊或其他原因造成的閃絡，由於頭部電阻極小、沿傘盤放電距離較長電阻相對較大，因此大部分能量都從瓷絕緣子頭部的放電通道洩放，電弧從絕緣子頭部通過時產生的熱量使絕緣子炸開，產生斷串。
可見瓷絕緣子斷串的關鍵是絕緣子產生了零值缺陷。
二、零值缺陷原因
① 絕緣子質量不良
瓷絕緣子的膠裝界面工藝不良、瓷件材質不良會導致零值絕緣子的產生。
瓷絕緣子膠裝界面存在瓷、水泥、鋼等散熱膨脹係數不同的材質，一般需要塗覆瀝青等材料作為緩衝層，當如緩衝層太薄或與瓷、水泥等材質配合度不夠，絕緣子承受外界溫度變化導致界面開裂。
瓷絕緣子瓷件中存在砂眼，或瓷件晶粒尺寸過大，長期運行中瓷件內部產生微裂紋，裂紋擴展到一定程度導致低零值絕緣子的產生。
② 多次遭受雷擊
當杆塔遭受雷擊，絕緣子就可能承受陡度、幅值均較高的衝擊電壓，此時瓷件承受電壓最高(瓷件頭部)、絕緣相對薄弱處可能產生局部放電損傷，在經受多次陡波衝擊後，絕緣子瓷件頭部的損傷會逐步擴展，到一定程度便導致低值絕緣子的形成。
③ 機械負荷過大
嚴重覆冰、超出設計風速的大風造成絕緣子承受過大的機械應力，可能導致絕緣子鋼腳位置開裂，產生低零值絕緣子。
早期瓷絕緣子零值大部分是自身材質原因造成，隨著瓷絕緣子技術水平的提升，相應數量相對減少，而隨著瓷絕緣子運行年限的增加，多次雷擊造成零值的情況需要引起重視。
三、應對措施
① 加強零值檢測
零值檢測工作量大、檢出效率與檢測方法關係密切，在塔上帶電測量操作難度大，是目前仍未徹底解決的一個難題。在現有技術下，可採用如下手段以提升零值檢出效率：
A 對多雷區瓷絕緣子開展抽檢，更換一部分絕緣子至實驗室開展抽樣檢測，在空氣溼度較大時進行絕緣電阻測試(乾燥時部分低值絕緣子難以測出)，並開展陡波衝擊測試，檢查有無瓷件頭部受損;
B 提高絕緣電阻測試電壓;
② 採用疏導式防雷措施
採用並聯間隙、避雷器等疏導式防雷措施，避免雷電流通過絕緣子，以減少絕緣子受損概率。
③ 提升線路耐雷水平
改造接地、加強絕緣，儘量限制遭受雷擊後絕緣子承受的衝擊電壓幅值。
